電介質表面的帶電性能與其表面結構有很大關系。在航天器表面帶電研究中，對電介質表面改性是避免其達到高充電電位的有效途徑之一。電介質表面改性實用的做法是采用略低于電介質體積電阻率的薄涂層涂于電介質表面，以此為靜電電荷的消散提供通道，(并可阻止靜電荷的積累，降低電介質表面靜電電位，減少因表面靜電擊穿引發(fā)的事故。因此薄涂層配方工藝實驗就是電介質表面改性工作的關鍵。在薄涂層配方研究中，直接測量真空環(huán)境下電介質表面電阻率較為困難。為此提出了一種替代測試法，并借助計算推導和實驗分析，找出了真空環(huán)境下平板狀介質表面電阻率與體積電阻率的對應關系，最終驗證了該法的可行性，最后以純環(huán)氧板試樣為實驗對象，研究了其體積電阻率和表面電阻率與環(huán)境濕度、環(huán)境溫度及大氣壓強的關系．為下一步材料表面改性工作打下了基礎。