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ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)Z高的160MHz。雙掃描技術(shù)，測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。雙測(cè)試要素輸入，測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。$n
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)Z高的160MHz.硅橡膠高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
ZJD-B型介電常數(shù)測(cè)試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。
ZJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試回路采用了優(yōu)化的設(shè)計(jì)、優(yōu)質(zhì)的介質(zhì)材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號(hào)源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測(cè)定和顯示部分運(yùn)用了微機(jī)技術(shù)和智能化管理，數(shù)碼鎖定信號(hào)源頻率，諧振回路自動(dòng)搜索，測(cè)試標(biāo)頻自動(dòng)設(shè)置技術(shù)，使得測(cè)試精度更高，使生產(chǎn)線分選測(cè)試速度大增。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x符合標(biāo)準(zhǔn)： ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法； GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法； GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法； GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法；
聯(lián)系人：石磊
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